| 产品特性：AR测试 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 品牌：OTSUKA大塚电子 | 型号： RE-200 | 尺寸：300 （W） × 560 （H） ×430 （D） 毫米 |
| 类型：高速延迟测量 | 适用范围：约0nm~约1μm | 重量：约 20 kg |
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理、直营各日本品牌工业产品，联系人：张小姐
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产品信息
特点
低（残余）延迟测量从0nm
在光轴检测的同时，可以高速测量延迟（Re.）（世界上
最快的处理速度在0.1秒以下）
由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
设置的测量项目更少，测量更简单
测量波长为550nm，以及各种波长
Rth 测量，全
向角度测量（需要可选的自动旋转倾斜夹具）
与拉伸测试仪结合使用时，可以在
薄膜的偏振特性的同时进行光弹性评估（该系统是定制的）。 ）
测量项目
延迟（ρ[deg.]， Re[nm]）
主轴方位角（θ[deg.]）
椭圆比（ε）、方位角（γ）
三维折射率（NxNyNz）
测量对象
缓速膜、偏振膜、椭圆膜、视角改善膜、各种功能膜
透明、各向异性（玻璃应变、应变等）
什么是 RE-200？
RE-200 将由光子晶体元件（偏振元件）和 CCD 摄像机组成的偏振测量模块与透射偏振光学系统相结合，可实现快速、高精度的相位差（延迟）和主轴方位角测量。 由于偏振强度模式是在 CCD 摄像机的一次拍摄中获得的，因此没有偏振器旋转机制，整个系统配置紧凑，即使在长时间使用时也能保持稳定的性能。
| 类型表达式 | RE series |
| 样本大小 | 最小 10×10mm 至 100×100mm |
| 测量波长 | 550nm （标准规格）*1 |
| 延迟测量范围 | 约0nm~约1μm |
| 轴检测重复精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 探测器 | 偏振测量模块 |
| 测量点直径 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 卤素灯或 LED 光源 |
| 主体和重量 | 300 （W） × 560 （H） ×430 （D） 毫米，约 20 kg |
